场发射透射电子显微镜（FE-TEM）
生产厂商：美国FEI公司
型号：Tecnai G2 F20 S-TWIN
主要性能指标
加速电压：20 ~ 200 kV；
信息极限分辨率：£0.14 nm；
STEM分辨率：0.20nm；
FEG最小束斑： £ 0.3nm；
相机常数：30~4500 mm；
电子束最大会聚角：±13°；
远程操作接口，自动光阑接口；
电子枪：FEG， 能量分辨率￡0.7eV；
点分辨率：0.24 nm；
Cs (mm) / Cc (mm) 1.2 / 1.2；
TEM放大倍数：60 ~ 1000kx；
样品最大倾角：±40°；
一体化能谱仪和CCD相机；
仪器使用范围
广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。
